深圳ic芯片冷熱衝擊試驗箱

深圳ic芯片冷熱衝(chong) 擊試驗箱

用途：

冷熱衝(chong) 擊試驗箱是金屬、塑料、橡膠、電子等材料行業(ye) *的測試設備，用於(yu) 測試材料結構或複合材料，在瞬間下經*溫及極低溫的連續環境下忍受的程度，得以在短時間內(nei) 檢測試樣因熱脹冷縮所引起的化學變化或物理傷(shang) 害。冷熱衝(chong) 擊試驗箱滿足的試驗方法:GB/T2423.1.2、GB/T10592-2008、GJB150.3高低溫衝(chong) 擊試驗。

高低溫衝(chong) 擊試驗箱根據試驗需求及測試標準分為(wei) 三箱式和兩(liang) 箱式，區別在於(yu) 試驗方式和內(nei) 部結構不同。三箱式分為(wei) 蓄冷室，蓄熱室和試驗室，產(chan) 品在測試時是放置在試驗室。兩(liang) 箱式分為(wei) 高溫室和低溫室，是通過電機帶動提籃運動來實現高低溫的切換，產(chan) 品放在提籃裏，是隨提籃一起移動的。

深圳ic芯片冷熱衝(chong) 擊試驗箱

依據標準：

GB5170、2、3、5、6 《電工電子產(chan) 品環境試驗設備基本參數檢定方法低溫、高溫設備》

GB2423.1-2008(IEC68-2-1)《試驗A：低溫試驗方法》

GB2423.2-2008(IEC68-2-2)《試驗B：高溫試驗方法》

GB/T2423.22-2008 《試驗N: 溫度變化試驗方法》

GJB150.3A-2009(MIL-STD-810D)《高溫試驗方法》

GJB150.4A-2009(MIL-STD-810D)《低溫試驗方法》

GJB/150.5-2009 《溫度衝(chong) 擊試驗》

GJB360.7-87    《溫度衝(chong) 擊試驗》

GJB367.2-87 405《溫度衝(chong) 擊試驗》

SJ/T10187-91Y73《係列溫度變化試驗箱-一箱式》

SJ/T10186-91Y73《係列溫度變化試驗箱-二箱式》

GB/T 2424.13-2002《試驗方法溫度變化試驗導則

工作原理：

高低製冷循環均采用逆卡若循環，該循環由兩(liang) 個(ge) 等溫過程和兩(liang) 個(ge) 絕熱過程組成。其過程如下:製冷劑經壓縮機絕熱壓縮到較高的壓力，消耗了功使排氣溫度升高，之後製冷劑經冷凝器等溫地和四周介質進行熱交換，將熱量傳(chuan) 給四周介質。後製冷劑經閥絕熱膨脹做功，這時製冷劑溫度降低。後製冷劑通過蒸發器等溫地從(cong) 溫度較高的物體(ti) 吸熱，使被冷卻物體(ti) 溫度降低。此循環周而複始從(cong) 而達到降溫之目的。

不同溫段衝(chong) 擊:由多級蒸發器結構相應切斷，控製蒸發麵積與(yu) 製冷量膨脹閥匹配，使用製冷係統輸出合理減少加熱器中和的輸出量，達到恒定節能;另有獨立的換氣閥門，在排氣(常溫恢複)時動作引入環境空氣。

進氣口在環境溫度曝露時吸進外麵的空氣。

排氣口從(cong) 機械室和試驗區排出熱氣定時預定功能。

預先設定試驗開始時間，試驗箱自動開始起動並準備開始試驗。

曝露時間縮短功能。

試驗區的下風溫度達到曝露溫度後轉換到下一個(ge) 曝露的功能。

前處理/後處理功能。

在循環試驗開始前或結束後，試樣被曝露在高溫環境中(熱處理)維持一定時間。

幹燥運轉功能。

試驗結件下運轉一定的時間。